为进一步拓宽师生前沿表征技术视野，提升材料科学研究中先进表征技术的应用能力，推动科研与技术实践深度融合，2026年6月10日，北京科技大学新金属材料全国重点实验室在主楼353会议室成功举办先进表征技术系列讲座（三）——聚焦离子束（FIB）技术专题培训，吸引了校内相关专业师生及科研人员参与交流学习。实验室副主任王辉，实验室结构与表征平台副主任王连庆、副主任乔祎，赛默飞世尔公司高级市场经理张帧，高级业务拓展经理韩伟，资深应用经理高海峰出席活动，本次培训由王辉主持。

王辉主持培训

在培训开始前，王辉副主任对专程而来的赛默飞世尔专家表示了感谢，介绍了本次培训的意义，强调了FIB技术是材料微观机理探究、解析的重要工具，直接决定实验科研成果质量，是支撑高水平科研创新的关键基础能力，勉励全体参训师生认真学习、深入钻研、学有所成。

乔祎作专题培训

培训环节，乔祎老师以“聚焦离子束（FIB）技术原理及多技术联合表征应用”为题开启首场报告。她首先系统讲解了FIB技术的基本原理、关键设备构成及微纳加工的核心技术逻辑，随后重点阐述了FIB技术在材料科学研究中的关键应用场景。报告中，乔祎结合自身在透射电镜样品制备领域的丰富经验，深入探讨了FIB与SEM、EDS、EBSD、TEM、APT等表征技术的联合表征策略，分析了不同技术在材料多尺度、多维度表征中的互补优势与协同应用方法。同时，她针对FIB加工过程中易产生的表征损伤问题，分享了损伤成因分析、控制手段及解决方案的探索实践，为科研人员优化样品制备流程、提升表征数据可靠性提供了重要参考。

高海峰作专题培训

短暂茶歇交流后，赛默飞世尔NanoPort SEM/SDB应用经理高海峰以“FIB技术前沿进展与实操应用”为题带来第二场报告。他结合自身14年的行业经验，从一线应用视角，系统解析了FIB技术从样品制备到微纳加工的全流程关键技术要点，分享了高效、精准的FIB样品制备策略与避坑指南。报告重点介绍了DualBeam双束电镜的最新应用进展，结合大量案例，详细讲解了复杂样品制备、三维重构、原位表征等前沿场景的实现方法，同时对常见的操作误区、设备优化技巧进行了针对性讲解，为材料领域的科研与工业应用提供了实用的技术参考。

本次先进表征技术系列讲座（三）聚焦FIB这一材料表征领域的核心工具，兼顾理论讲解与实践分享，既覆盖了技术原理、联合表征等基础内容，也深入探讨了前沿进展与实践经验，为在场师生搭建了高水平的技术交流平台。后续，新金属材料全国重点实验室将持续推出系列先进表征技术讲座，助力师生掌握前沿表征技术，提升科研创新能力，为材料科学领域的高质量发展注入新动能。

活动现场