设备详情

型号：Tecnai G2 F30 S-TWIN

制造厂家：美国FEI公司

安装日期：2011年6月

 

主要附件：

Gatan电子能量过滤系统（GIF）

EDAX  X－射线能谱仪

STEM-HAADF高角环形暗场探头

Gatan894Ultriscan相机

Gatan994Ultriscan相机

Lorentz 电磁透镜

 

Tecnai G2 F30 是一个真正多功能，多用户环境的先进仪器。它将各种透射电镜技术(包括TEM、HRTEM、STEM、HRSTEM、电子衍射、EFTEM、EDX、EELS和Lorentz透镜等)一体化，形成强大的分析功能。除了具有200kV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。

主要技术指标：

加速电压：300KV                     电子枪：肖特基场发射电子枪

分辨率:       点分辨率：0.205 nm 　　 线分辨率：0.102 nm       

             信息分辨率：0.14nm      HR STEM分辨率：0.16nm

             EELS分辨率：0.65eV     EDX分辨率：136eV

放大倍数:    TEM 模式               60X—1000KX

             HAADF STEM模式       200X—100M

应用举例：

地点：主楼-175

联系人：尤力

电话：6233327