设备技术参数:
先进高功率X射线原位表征系统,可以对不同形态的材料进行表征,包括粉末材料,块状材料,丝状材料等。可以对材料进行多种组织结构分析,包括物相定性定量分析,点阵参数确定,结晶度及粒径大小表征,织构测定,残余应力分析,不同温度下物相分析及原位拉伸过程中材料的物相变化等,是集多种功能于一体的材料分析表征系统。
生产厂家:日本理学(Rigaku)
放置地点:主楼183
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