为进一步增强研究生对科研测试技术的理解与应用能力，进一步提升研究生的科研技能与素养，新金属材料国家重点实验室“TEM专题讲座”近日在主楼353顺利举办，实验室邀请e测试TEM项目工程师梁老师作为主讲嘉宾，就TEM构造和成像原理、不同类型样品的制备技巧、TEM成像模式与图像衬度、TEM具体操作流程演示（云现场）、TEM数据分析与案例解析等方面进行了详细的讲解。

讲座伊始，梁老师从TEM的基础原理出发，深入讲解了样品的制备流程，并阐述了TEM在材料科学、生物学等领域中的应用及数据分析方法，深入浅出地解析了其复杂的工作机制与结构特点，并对TEM的样品制备、测试和数据分析中遇到的问题做出详细介绍。

接下来，梁老师为大家讲解了TEM测试可以得到的数据及应用。其中形貌像可以显示样品的基本形态、分散性、大小等信息。高分辨像可以揭示样品内部的细节，如晶体缺陷、界面结合情况等。能谱点扫、线扫、面扫，能谱分析可以提供样品中元素的种类和含量信息，有助于确定样品的化学成分选区电子衍射可以用来确定物相，通过电子衍射基本公式结合物相卡片，可以进行物相鉴定，并确定界面两相的取向关系。

最后，梁老师通过一系列精心挑选的实际案例，讲解了同学们在实际操作中可能遇到的问题。此外，还对常见疑问进行了系统解答，帮助同学们加深了对TEM技术的理解。每一个案例都紧密联系实际，让同学们深刻感受到TEM技术在推动科研进步中的重要作用。

此次“TEM专题讲座”在热烈的互动中圆满结束。通过本次活动，不仅为实验室学生提供了一个学习交流的平台，也为科研氛围的营造和科研技能的提升注入了新的活力。